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新开发“辉钼矿”半导体材料号称性能表现优于矽

时间:2011-02-10点击:3

   有一种新开发的半导体材料辉钼矿(molybdenite,mos2),其功耗据说仅有矽材料的十万分之一,又能用以制作出尺寸更小的电晶体。瑞士洛桑理工学院(ecolepolytechnique federale de lausanne,epgl)的研究人员并指出,这种新一代半导体材料具备能隙(bandgap)的特性也打败石墨烯(graphene)。
 
    epgl指出,辉钼矿是一种矿藏丰富的材料,已经运用在钢铁合金以及做为润滑油的添加剂;但该校的奈米电子与结构实验室(laboratoryof nanoscale electronics and structures,lanes)是首创开发采用该种材料的半导体元件。epgl教授andraskis表示:“它具有可制作出超小电晶体、led与太阳能电池的十足潜力。”
 
    根据kis的说法,与属于三维结晶体的矽大不同,辉钼矿有一种主要的特性,也就是本身为二维材料,能制作出厚度仅6.5埃(angstrom,十分之一奈米)的薄膜,而且制造方法相对容易;其电子迁移率则与2奈米厚度的矽材料层相当。
 
    此外,不同于零能隙的石墨烯,辉钼矿具备1.8电子伏特(electron-volts)的能隙,介于砷化镓(galliumarsenide,能隙1.4电子伏特)与氮化镓(galliumnitride,能隙3.4电子伏特)之间,也意味着可用该种材料制作出能同时具备电子与光学功能的晶片。

资讯来源:钼网站

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